Друзья, вас становится всё больше! И мы всегда рады приветствовать наших новых подписчиков 👋

Давайте познакомимся! Мы научно-исследовательский Центр Зондовой Микроскопии. На нашем канале вас ждут разборы научных статей, лекции от известных учёных и просто много интересной информации из мира зондовой микроскопии.

Сегодня мы хотим напомнить вам основы основ (или только познакомить с ними).
Так как же работает атомно-силовая микроскопия (АСМ)?🔬

🦠 Мы привыкли, что очень маленькие объекты можно увидеть с помощью микроскопа. Но что делать, если эти объекты настолько маленькие, что их так просто не увидишь? Тогда можно их пощупать! По сути, атомно-силовая микроскопия - это микроскопия на ощупь.

🤯 Принцип работы атомно-силового микроскопа чем-то напоминает прослушивание виниловых пластинок, когда иголочка двигается по поверхности и получается звук. Вот и в АСМ также: гибкая консоль (кантилевер) двигается по поверхности, описывает её профиль и с помощью различных датчиков записывает линию за линией топографию исследуемой поверхности.
А используя математические методы, на экране компьютера можно получить не только картинку-топографию, но и отображение локальных физических свойств объекта исследования.

Атомно-силовая микроскопия постоянно развивается: повышается разрешение и скорость сканирования, разрабатываются новые методы анализа, происходит комбинация с другими методами исследования для получения более подробной информации о материалах. И обо всём этом мы рассказывали и будем рассказывать на нашем канале🔥


А что было бы интересно узнать вам? О каких методах почитать? Каких учёных увидеть и услышать в нашем ЦЗМ «AFM Centre»?

Делитесь своим мнением в комментариях 👇

#дайджест

🔬 Мы много рассказывали о методах исследования в атомно-силовой микроскопии (АСМ) - и будем продолжать дальше! Но сегодня давайте обратим внимание на приложения атомно-силовых микроскопов в научных и промышленных исследованиях 🔬

На сегодняшний день АСМ представляет собой такой «многоцелевой комбайн», позволяющий проводить широкий спектр исследований физических свойств различных материалов. Сочетание АСМ с другими методами, например, такими как рамановская спектроскопия или флуоресцентная микроскопия, делает данный метод незаменимым и универсальным для применения в различных сферах науки, техники и промышленности.

🔵 Рассмотрим, как атомно-силовая микроскопия помогает в решении различных задач:

🔎 Изучение свойств пленок и наноматериалов:
Материаловедение играет важную роль в развитии современных технологий, требуя комплексных методов исследования новых функциональных материалов, технологии получения которых постоянно совершенствуются. Благодаря атомно-силовой микроскопии исследователи могут изучать широкий спектр свойств синтезированных материалов, таких как механические, электрические, оптические, магнитные, пьезоэлектрические свойства.

🔎 Анализ поверхностных дефектов:
Контроль качества защитных покрытий - важнейший аспект и одна из основополагающих задач современной промышленности. АСМ помогает выявлять поверхностные дефекты, такие как отверстия, царапины, пористость, выступы - то, что может существенно ухудшать защитные свойства покрытий (изоляционные, проводящие, механически стойкие, химически стойкие и другие). Методы атомно-силовой микроскопии, включая исследование топографии, отображение сопротивления растекания, наноиндентирование, позволяют эффективно решать такие задачи.

🏛 АСМ на страже истории:
Атомно-силовая микроскопия позволяет открывать «дверь» не только в будущее, но и в «прошлое». Использование АСМ для анализа памятников истории и культуры является новым и весьма перспективным направлением. Исследование механических свойств поверхности позволяет оценить степень деградации различных материалов, таких как бумага, пигмент, стекло, различные металлы. Эти данные в совокупности с другими (в том числе полученными и другими методами) позволяют оценивать возраст предметов, химический состав материала и среды в которой они хранились. Более того, АСМ может быть использована для оценки результатов очистки поверхности памятников в процессе реставрационных работ.

📈 На рисунке представлены АСМ-изображения, показывающие характерные артефакты: поверхность микрочипа, покрытая алюминиевой топографией (A) и контрастным сигналом проводимости (B).


✏️ Пишите в комментариях, если вы хотите, чтобы мы разобрали один из этих аспектов более подробно!