FORMULA Микроэлектроники – Telegram
FORMULA Микроэлектроники
309 subscribers
112 photos
8 videos
40 links
Канал компании ФОРМ www.form.ru для тех, кто, действуя вместе, продвигает уровень российского АТЕ к высотам мировых стандартов!
Для тех, кто делает АТЕ драйвером развития отечественной электроники. Техподдержка ФОРМ: +7 (495) 269 75 93
Download Telegram
ФОРМ является членом ассоциации Консорциум дизайн- центров -АКРП.

Кроме основного
стенда ФОРМ на EXPOELECTRONICA
у нас будет второе представительство -
на стенде
Консорциума

А2013, Павильон 3, зал 13.

На стенде ожидается
розыгрыш призов! Участвуйте! И посещайте наши стенды!
👍7
Дорогие друзья, коллеги и партнёры!

Завтра - День Космонавтики!

С ностальгией и душевным волнением поздравляем вас с наступающим праздником, который напоминает о том, какой прорыв могут совершить люди, способные соединить мечты с наукой, техникой и намерением добиться поставленной Цели!

Для нас большая честь сотрудничать с предприятиями космической отрасли, для которых мы многие годы поставляем нашу продукцию - Тестеры FORMULA®
Это доверие вдохновляет нас на освоение передовых технологий и разработку все более совершенных контрольно- измерительных систем,
на развитие российского научно-технического задела в области создания высокотехнологичной продукции!

Мы считаем День Космонавтики не только символом освоения Космоса, но и знаком прогресса в земных делах!

🚀
👍5🔥3
This media is not supported in your browser
VIEW IN TELEGRAM
Рабочий момент!
Нельзя не заснять последние приготовления к отгрузке нашего оборудования на выставку Экспоэлектроника!
5👍4👀3🏆1🦄1
Наш первый день выставки Экспоэлектроника был насыщен встречами и прошел очень динамично! Спасибо 🙏 нашим заказчикам и сотрудникам стенда ФОРМ за создание позитивной атмосферы!
👍14
🔥11👍6❤‍🔥5🆒2
🚀 Замминистра промышленности РФ оценил новинки ФОРМ на ExpoElectronica

В первый день выставки ExpoElectronica стенд компании ФОРМ посетил Василий Викторович Шпак, заместитель министра промышленности и торговли РФ.
Визит высокопоставленного гостя подчеркнул стратегическую важность разработок нашей компании для отрасли.

🔍 Особый интерес В.В. Шпак проявил к новым Тестерам полупроводниковых приборов — FORMULA TT4 и FORMULA SD, назвав их основой для технологического прорыва в микроэлектронике.

📌 Выставка ExpoElectronica продолжается!
Приходите на стенд С3081 Зал 15, чтобы увидеть прорывные решения своими глазами!

#ExpoElectronica #Микроэлектроника
11🔥7👏4
Media is too big
VIEW IN TELEGRAM
🔥 Мы сделали это! Успех на выставке — наш общий триумф! 🔥

С радостью делимся результатами нашего участия на EXPOELECTRONICA-25. Это были дни ярких впечатлений, знакомств и бесценного обмена идеями и предложениями.

Тщательная подготовка к выставке дала свои плоды:

Наш стенд привлек внимание профессионалов рынка.
Новейшие разработки вызвали живой интерес и обсуждения.
Мы укрепили доверие клиентов и вместе выбрали путь дальнейшего взаимодействия!

Спасибо!
🌟 нашему производству, НИОКР, всем департаментам предприятия - за отличную подготовку наших экспонатов и организацию стенда!

🌟 Нашей команде — за профессионализм, труд и горящие глаза!

🌟 Нашим клиентам и партнёрам — за доверие и поддержку, за открытость к расширению сотрудничества и новые темы!

Впереди ещё больше возможностей! Вместе мы обеспечиваем настоящее и создаём технологии будущего! 🚀

#Микроэлектроника #Выставка
👍11❤‍🔥7🔥4
🚀  На кооперационной сессии АКРП, проведенной в рамках выставки ExpoElectronica,  с докладом «Новые разработки ФОРМ для функциональных испытаний ЭКБ» выступил  Павел Бахвалов, менеджер по коммерциализации проектов НИОКР.                              
В выступлении анонсированы:
🔹 Тестер FORMULA SD – система контрольно-измерительная модульная  на  российской Тестовой платформе TXI для функциональных испытаний полупроводниковых приборов (ППП) с расширенным диапазоном напряжений до 4 кВ
🔹 Тестер FORMULA TT4 – система контрольно-измерительная для функциональных испытаний ППП в диапазоне напряжений до 7 кВ; 🔹 Тестер FORMULA RXI – система контрольно-измерительная модульная для функциональных испытаний микросхем НЧ ЦАП и АЦП до 250 кГц.
📌 Приглашаем вас посетить наше производство в Москве и испытательную лабораторию в Сколково для обсуждения возможностей сотрудничества.
8👍8
Что бы вы хотели увидеть на экскурсии по нашему предприятию?
Anonymous Poll
27%
НИОКР-департамент
27%
Производство
47%
Демозал продукции ФОРМ
Уважаемые коллеги!
На официальном сайте Госстандарта опубликованы  три новых ГОСТа  по методикам характеризации ЦАП и АЦП!

📑1) ГОСТ Р 71920-2024
Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования.

Область применения:
💡микросхемы линейных цифро-аналоговых преобразователей (ЦАП) цифрового кода в напряжение (ток) с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включительно.

📈Стандарт устанавливает методы измерения следующих параметров характеристики преобразования:
- дифференциальной нелинейности;
- интегральной нелинейности;
- погрешности в заданной точке характеристики преобразования E[k];
- выходного напряжения (тока) смещения нуля Е0(I0);
- погрешности усиления EПШ;
- отношения сигнал/шум;
- отношения сигнал/шум и искажения;
- диапазона, свободного от гармонических искажений;
- полных нелинейных искажений;
- двухтональных интермодуляционных искажений m-го порядка IMD2,m.

📈Стандарт устанавливает один метод измерения величины в заданной точке характеристики преобразования на аналоговом выходе ЦАП и вычисления статических характеристик (выходного напряжения (тока) смещения нуля, погрешности усиления, погрешности в заданной точке характеристики преобразования, дифференциальной нелинейности, интегральной нелинейности) и один метод измерения динамических параметров ЦАП.

📑2) ГОСТ Р 71921-2024
Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения времени установления выходного напряжения (тока).

💡Область применения:
микросхемы линейных цифро-аналоговых преобразователей цифрового кода в напряжение (ток) с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включительно

📈Стандарт устанавливает два метода измерения времени установления:
метод 1 — для цифро-аналоговых преобразователей без внутреннего регистра записи входного кода;
метод 2 — для цифро-аналоговых преобразователей с внутренним регистром записи входного кода.

📑3) ГОСТ Р 71922-2024 Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования.

💡Область применения:
микросхемы линейных аналого-цифровых преобразователей (АЦП) напряжения в цифровой код с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включительно.

📈Стандарт устанавливает методы измерения следующих параметров:
- напряжения межкодового перехода U[k];
- погрешности в заданной точке характеристики преобразования E[k];
- погрешности смещения E0;
- погрешности усиления EПШ;
- линеаризуемой погрешности в заданной точке характеристики преобразования E[k];
- линеаризуемой погрешности смещения E0;
- линеаризуемой погрешности усиления EПШ;
- немонотонности характеристики преобразования;
- дифференциальной нелинейности (ДНЛ);
- интегральной нелинейности (ИНЛ);
- отношения сигнал/шум (SNR);
- отношения сигнал/шум и искажения (SINAD);
- диапазона, свободного от гармонических искажений (SFDR);
- полных нелинейных искажений (THD);
- интермодуляционных искажений m-го порядка (IMD2,m).

📈Стандарт устанавливает:
2️⃣ метода измерения напряжения межкодового перехода и вычисления статических характеристик:
-погрешности в заданной точке характеристики преобразования,
-погрешности смещения,
-погрешности усиления,
-ДНЛ,
-ИНЛ,
1️⃣ метод для определения немонотонности характеристики преобразования и измерения статических характеристик:
- линеаризуемой погрешности в заданной точке характеристики преобразования,
- линеаризуемой погрешности смещения,
- линеаризуемой погрешности усиления,
- ИНЛ для случая, когда измерение межкодовых переходов невозможно,
метод измерения динамических параметров АЦП (SFDR, SNR, SINAD, THD, IMD).
Please open Telegram to view this post
VIEW IN TELEGRAM
👍172😱2👏1
🏆 ПРОДЛЕН СЕРТИФИКАТ РОССТАНДАРТА НА ТЕСТЕР РЕЛЕ FORMULA® R

Мы рады сообщить о продлении сертификата Росстандарта, подтверждающего полное соответствие метрологических характеристик Тестеров реле FORMULA® R утвержденному описанию типа средств измерений. Разработчик и производитель - ООО "ФОРМ".

Сертификат действителен
до 16 марта 2030 года.

О Тестерах реле FORMULA® R

Тестеры реле учитывают современные потребности электронной промышленности, соответствуют требованиям метрологического законодательства РФ и нормативной документации в области измерений и испытаний в микроэлектронике.

Тестеры FORMULA® R производятся в ООО "ФОРМ" с 2011 года и успешно применяются на 33 ведущих предприятиях электронной отрасли.

Тестер FORMULA® R выполняет комплексный диагностический контроль и измерение параметров реле в полном соответствии с требованиями ГОСТ 16121–86 и ГОСТ РВ 5945–002–2008.

Тестеры реле FORMULA® R эффективны на всех этапах жизненного цикла реле, включая:

📌определительные, исследовательские и приемочные испытания вновь разработанных типов реле, в том числе,
с применением диагностических режимов и режимов, приближенных к реальным условиям функционирования реле в конечных изделиях
📌 технологические и приемо-сдаточные испытания серийной продукции
📌 сертификационные испытания реле ИП
📌 прогнозирование вероятности отказов реле в эксплуатации
📌 входной контроль
📌 анализ брака/отклонений и рассмотрение рекламаций

Записаться на бесплатную демонстрацию

Узнайте больше о возможностях Тестера FORMULA® R и его преимуществах для вашего предприятия. Для этого просто напишите в отдел технической поддержки support@form.ru или позвоните по телефону
+7 495 269-75-93
Please open Telegram to view this post
VIEW IN TELEGRAM
👍164🥰3🔥1👏1
🧠 Читайте нашу новую статью на злободневную тему испытаний транзисторов
👉 «Тестер полупроводниковых приборов FORMULA® TT3:

Испытания MOSFET-транзисторов на устойчивость к энергии лавинного пробоя (ЭЛП).

Впервые запрос на проведение испытаний транзисторов на устойчивость к ЭЛП для нас сформировал наш потребитель - предприятие-производитель полупроводниковых приборов.

Поскольку предприятие использует сокращенный технологический маршрут, на вход которого поступают покупные пластины с уже готовыми кристаллами MOSFET-транзисторов, на первом этапе предусмотрен приемочный входной контроль.

Требования к нему устанавливаются в соответствии с ТУ в части норм для параметров транзисторов на пластинах.

При этом статические электрические параметры измеряются на
Тестерах FORMULA® TT2, интегрированных с зондовыми автоматами, а для испытаний на устойчивость к ЭЛП многие годы применялся отдельный стенд, выполненный самостоятельно специалистами предприятия-производителя ППП.

Запрос нашего Потребителя состоял в том, чтобы весь цикл приемочных испытаний на пластинах выполнялся на одном аттестованном рабочем месте, что позволило бы:
- повысить производительность труда (особенно в моменты пиковой загрузки);
- снизить требования к квалификации испытателя (заменив инженера на оператора);
- обеспечить метрологическую достоверность результатов
- автоматически документировать режимы и результаты в едином протоколе приемки

Впервые данная задача была решена в Тестере FORMULA® TT3 путем реализации метода испытаний ППП на устойчивость к ЭЛП.
Вашему вниманию предлагается статья, основанная на опыте двухлетнего применения метода и Тестера FORMULA® TT3 на производстве.
1🔥18👍103🤔1🐳1
🎉🎈 В честь 33-летия компании "ФОРМ" и Дня радио — праздников, неразрывно связанных с историей отечественной микроэлектроники, сегодня мы разыгрываем потрясающий ПРИЗ среди подписчиков нашего Telegram-канала!

ПРИЗ🎁 - праздничная корзина с деликатесами!
🏆 Победитель будет выбран случайным образом и объявлен уже сегодня в 17:00! 🏆
Не пропустите — проверяйте новости канала!
Испытайте удачу, нажав кнопку "Принять участие" прямо сейчас 👇
15🎉10🔥8😁1😱1
С Днем Великой Победы! Крепкого здоровья вам,
вашим родным и близким!
Счастья, добра и мирного неба!

⭐️⭐️ ⭐️
❤‍🔥10🔥86🕊41🤗1