🚀 На кооперационной сессии АКРП, проведенной в рамках выставки ExpoElectronica, с докладом «Новые разработки ФОРМ для функциональных испытаний ЭКБ» выступил Павел Бахвалов, менеджер по коммерциализации проектов НИОКР.
В выступлении анонсированы:
🔹 Тестер FORMULA SD – система контрольно-измерительная модульная на российской Тестовой платформе TXI для функциональных испытаний полупроводниковых приборов (ППП) с расширенным диапазоном напряжений до 4 кВ
🔹 Тестер FORMULA TT4 – система контрольно-измерительная для функциональных испытаний ППП в диапазоне напряжений до 7 кВ; 🔹 Тестер FORMULA RXI – система контрольно-измерительная модульная для функциональных испытаний микросхем НЧ ЦАП и АЦП до 250 кГц.
📌 Приглашаем вас посетить наше производство в Москве и испытательную лабораторию в Сколково для обсуждения возможностей сотрудничества.
В выступлении анонсированы:
🔹 Тестер FORMULA SD – система контрольно-измерительная модульная на российской Тестовой платформе TXI для функциональных испытаний полупроводниковых приборов (ППП) с расширенным диапазоном напряжений до 4 кВ
🔹 Тестер FORMULA TT4 – система контрольно-измерительная для функциональных испытаний ППП в диапазоне напряжений до 7 кВ; 🔹 Тестер FORMULA RXI – система контрольно-измерительная модульная для функциональных испытаний микросхем НЧ ЦАП и АЦП до 250 кГц.
📌 Приглашаем вас посетить наше производство в Москве и испытательную лабораторию в Сколково для обсуждения возможностей сотрудничества.
❤8👍8
Что бы вы хотели увидеть на экскурсии по нашему предприятию?
Anonymous Poll
27%
НИОКР-департамент
27%
Производство
47%
Демозал продукции ФОРМ
Уважаемые коллеги!
На официальном сайте Госстандарта опубликованы три новых ГОСТа по методикам характеризации ЦАП и АЦП!
📑1) ГОСТ Р 71920-2024
Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования.
Область применения:
💡 микросхемы линейных цифро-аналоговых преобразователей (ЦАП) цифрового кода в напряжение (ток) с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включительно.
📈 Стандарт устанавливает методы измерения следующих параметров характеристики преобразования:
- дифференциальной нелинейности;
- интегральной нелинейности;
- погрешности в заданной точке характеристики преобразования E[k];
- выходного напряжения (тока) смещения нуля Е0(I0);
- погрешности усиления EПШ;
- отношения сигнал/шум;
- отношения сигнал/шум и искажения;
- диапазона, свободного от гармонических искажений;
- полных нелинейных искажений;
- двухтональных интермодуляционных искажений m-го порядка IMD2,m.
📈 Стандарт устанавливает один метод измерения величины в заданной точке характеристики преобразования на аналоговом выходе ЦАП и вычисления статических характеристик (выходного напряжения (тока) смещения нуля, погрешности усиления, погрешности в заданной точке характеристики преобразования, дифференциальной нелинейности, интегральной нелинейности) и один метод измерения динамических параметров ЦАП.
📑2) ГОСТ Р 71921-2024
Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения времени установления выходного напряжения (тока).
💡 Область применения:
микросхемы линейных цифро-аналоговых преобразователей цифрового кода в напряжение (ток) с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включительно
📈 Стандарт устанавливает два метода измерения времени установления:
метод 1 — для цифро-аналоговых преобразователей без внутреннего регистра записи входного кода;
метод 2 — для цифро-аналоговых преобразователей с внутренним регистром записи входного кода.
📑3) ГОСТ Р 71922-2024 Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования.
💡 Область применения:
микросхемы линейных аналого-цифровых преобразователей (АЦП) напряжения в цифровой код с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включительно.
📈 Стандарт устанавливает методы измерения следующих параметров:
- напряжения межкодового перехода U[k];
- погрешности в заданной точке характеристики преобразования E[k];
- погрешности смещения E0;
- погрешности усиления EПШ;
- линеаризуемой погрешности в заданной точке характеристики преобразования E[k];
- линеаризуемой погрешности смещения E0;
- линеаризуемой погрешности усиления EПШ;
- немонотонности характеристики преобразования;
- дифференциальной нелинейности (ДНЛ);
- интегральной нелинейности (ИНЛ);
- отношения сигнал/шум (SNR);
- отношения сигнал/шум и искажения (SINAD);
- диапазона, свободного от гармонических искажений (SFDR);
- полных нелинейных искажений (THD);
- интермодуляционных искажений m-го порядка (IMD2,m).
📈 Стандарт устанавливает:
2️⃣ метода измерения напряжения межкодового перехода и вычисления статических характеристик:
-погрешности в заданной точке характеристики преобразования,
-погрешности смещения,
-погрешности усиления,
-ДНЛ,
-ИНЛ,
1️⃣ метод для определения немонотонности характеристики преобразования и измерения статических характеристик:
- линеаризуемой погрешности в заданной точке характеристики преобразования,
- линеаризуемой погрешности смещения,
- линеаризуемой погрешности усиления,
- ИНЛ для случая, когда измерение межкодовых переходов невозможно,
метод измерения динамических параметров АЦП (SFDR, SNR, SINAD, THD, IMD).
На официальном сайте Госстандарта опубликованы три новых ГОСТа по методикам характеризации ЦАП и АЦП!
📑1) ГОСТ Р 71920-2024
Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования.
Область применения:
- дифференциальной нелинейности;
- интегральной нелинейности;
- погрешности в заданной точке характеристики преобразования E[k];
- выходного напряжения (тока) смещения нуля Е0(I0);
- погрешности усиления EПШ;
- отношения сигнал/шум;
- отношения сигнал/шум и искажения;
- диапазона, свободного от гармонических искажений;
- полных нелинейных искажений;
- двухтональных интермодуляционных искажений m-го порядка IMD2,m.
📑2) ГОСТ Р 71921-2024
Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения времени установления выходного напряжения (тока).
микросхемы линейных цифро-аналоговых преобразователей цифрового кода в напряжение (ток) с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включительно
метод 1 — для цифро-аналоговых преобразователей без внутреннего регистра записи входного кода;
метод 2 — для цифро-аналоговых преобразователей с внутренним регистром записи входного кода.
📑3) ГОСТ Р 71922-2024 Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования.
микросхемы линейных аналого-цифровых преобразователей (АЦП) напряжения в цифровой код с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включительно.
- напряжения межкодового перехода U[k];
- погрешности в заданной точке характеристики преобразования E[k];
- погрешности смещения E0;
- погрешности усиления EПШ;
- линеаризуемой погрешности в заданной точке характеристики преобразования E[k];
- линеаризуемой погрешности смещения E0;
- линеаризуемой погрешности усиления EПШ;
- немонотонности характеристики преобразования;
- дифференциальной нелинейности (ДНЛ);
- интегральной нелинейности (ИНЛ);
- отношения сигнал/шум (SNR);
- отношения сигнал/шум и искажения (SINAD);
- диапазона, свободного от гармонических искажений (SFDR);
- полных нелинейных искажений (THD);
- интермодуляционных искажений m-го порядка (IMD2,m).
-погрешности в заданной точке характеристики преобразования,
-погрешности смещения,
-погрешности усиления,
-ДНЛ,
-ИНЛ,
- линеаризуемой погрешности в заданной точке характеристики преобразования,
- линеаризуемой погрешности смещения,
- линеаризуемой погрешности усиления,
- ИНЛ для случая, когда измерение межкодовых переходов невозможно,
метод измерения динамических параметров АЦП (SFDR, SNR, SINAD, THD, IMD).
Please open Telegram to view this post
VIEW IN TELEGRAM
👍17❤2😱2👏1
Мы рады сообщить о продлении сертификата Росстандарта, подтверждающего полное соответствие метрологических характеристик Тестеров реле FORMULA® R утвержденному описанию типа средств измерений. Разработчик и производитель - ООО "ФОРМ".
Сертификат действителен
до 16 марта 2030 года.
О Тестерах реле FORMULA® R
Тестеры реле учитывают современные потребности электронной промышленности, соответствуют требованиям метрологического законодательства РФ и нормативной документации в области измерений и испытаний в микроэлектронике.
Тестеры FORMULA® R производятся в ООО "ФОРМ" с 2011 года и успешно применяются на 33 ведущих предприятиях электронной отрасли.
Тестер FORMULA® R выполняет комплексный диагностический контроль и измерение параметров реле в полном соответствии с требованиями ГОСТ 16121–86 и ГОСТ РВ 5945–002–2008.
Тестеры реле FORMULA® R эффективны на всех этапах жизненного цикла реле, включая:
с применением диагностических режимов и режимов, приближенных к реальным условиям функционирования реле в конечных изделиях
Записаться на бесплатную демонстрацию
Узнайте больше о возможностях Тестера FORMULA® R и его преимуществах для вашего предприятия. Для этого просто напишите в отдел технической поддержки support@form.ru или позвоните по телефону
+7 495 269-75-93
Please open Telegram to view this post
VIEW IN TELEGRAM
👍16❤4🥰3🔥1👏1
🧠 Читайте нашу новую статью на злободневную тему испытаний транзисторов
👉 «Тестер полупроводниковых приборов FORMULA® TT3:
Испытания MOSFET-транзисторов на устойчивость к энергии лавинного пробоя (ЭЛП).
Впервые запрос на проведение испытаний транзисторов на устойчивость к ЭЛП для нас сформировал наш потребитель - предприятие-производитель полупроводниковых приборов.
Поскольку предприятие использует сокращенный технологический маршрут, на вход которого поступают покупные пластины с уже готовыми кристаллами MOSFET-транзисторов, на первом этапе предусмотрен приемочный входной контроль.
Требования к нему устанавливаются в соответствии с ТУ в части норм для параметров транзисторов на пластинах.
При этом статические электрические параметры измеряются на Тестерах FORMULA® TT2, интегрированных с зондовыми автоматами, а для испытаний на устойчивость к ЭЛП многие годы применялся отдельный стенд, выполненный самостоятельно специалистами предприятия-производителя ППП.
Запрос нашего Потребителя состоял в том, чтобы весь цикл приемочных испытаний на пластинах выполнялся на одном аттестованном рабочем месте, что позволило бы:
- повысить производительность труда (особенно в моменты пиковой загрузки);
- снизить требования к квалификации испытателя (заменив инженера на оператора);
- обеспечить метрологическую достоверность результатов
- автоматически документировать режимы и результаты в едином протоколе приемки
Впервые данная задача была решена в Тестере FORMULA® TT3 путем реализации метода испытаний ППП на устойчивость к ЭЛП.
Вашему вниманию предлагается статья, основанная на опыте двухлетнего применения метода и Тестера FORMULA® TT3 на производстве.
👉 «Тестер полупроводниковых приборов FORMULA® TT3:
Испытания MOSFET-транзисторов на устойчивость к энергии лавинного пробоя (ЭЛП).
Впервые запрос на проведение испытаний транзисторов на устойчивость к ЭЛП для нас сформировал наш потребитель - предприятие-производитель полупроводниковых приборов.
Поскольку предприятие использует сокращенный технологический маршрут, на вход которого поступают покупные пластины с уже готовыми кристаллами MOSFET-транзисторов, на первом этапе предусмотрен приемочный входной контроль.
Требования к нему устанавливаются в соответствии с ТУ в части норм для параметров транзисторов на пластинах.
При этом статические электрические параметры измеряются на Тестерах FORMULA® TT2, интегрированных с зондовыми автоматами, а для испытаний на устойчивость к ЭЛП многие годы применялся отдельный стенд, выполненный самостоятельно специалистами предприятия-производителя ППП.
Запрос нашего Потребителя состоял в том, чтобы весь цикл приемочных испытаний на пластинах выполнялся на одном аттестованном рабочем месте, что позволило бы:
- повысить производительность труда (особенно в моменты пиковой загрузки);
- снизить требования к квалификации испытателя (заменив инженера на оператора);
- обеспечить метрологическую достоверность результатов
- автоматически документировать режимы и результаты в едином протоколе приемки
Впервые данная задача была решена в Тестере FORMULA® TT3 путем реализации метода испытаний ППП на устойчивость к ЭЛП.
Вашему вниманию предлагается статья, основанная на опыте двухлетнего применения метода и Тестера FORMULA® TT3 на производстве.
1🔥18👍10❤3🤔1🐳1
🎉🎈 В честь 33-летия компании "ФОРМ" и Дня радио — праздников, неразрывно связанных с историей отечественной микроэлектроники, сегодня мы разыгрываем потрясающий ПРИЗ среди подписчиков нашего Telegram-канала!
ПРИЗ🎁 - праздничная корзина с деликатесами!
🏆 Победитель будет выбран случайным образом и объявлен уже сегодня в 17:00! 🏆
Не пропустите — проверяйте новости канала!
Испытайте удачу, нажав кнопку "Принять участие" прямо сейчас 👇
ПРИЗ🎁 - праздничная корзина с деликатесами!
🏆 Победитель будет выбран случайным образом и объявлен уже сегодня в 17:00! 🏆
Не пропустите — проверяйте новости канала!
Испытайте удачу, нажав кнопку "Принять участие" прямо сейчас 👇
❤15🎉10🔥8😁1😱1
FORMULA Микроэлектроники
🎉🎈 В честь 33-летия компании "ФОРМ" и Дня радио — праздников, неразрывно связанных с историей отечественной микроэлектроники, сегодня мы разыгрываем потрясающий ПРИЗ среди подписчиков нашего Telegram-канала! ПРИЗ🎁…
Telegram
RandomGodBot⚡️ [Рандомайзер]
Руководство - https://cutt.ly/zJI2tz9
Открытый код - https://cutt.ly/TW1BVwH
Канал бота - @RandomGod
Открытый код - https://cutt.ly/TW1BVwH
Канал бота - @RandomGod
🔥16👌4😭3🤬2⚡1🍾1
‼️ДОЛГОЖДАННЫЙ АНОНС‼️
АВТОРСКИЙ СЕМИНАР и
МАСТЕР-КЛАСС ФОРМ
"Контроль качества ЭКБ
в условиях параллельного импорта."
🗓05 июня 2025 | 10:00 | Технопарк «Сколково»,
Москва
О чем будем говорить?
❓ Как организовать входной контроль ЭКБ, если бюджет ограничен.
❓ Как выбрать оборудование для ваших задач и не ошибиться.
❓ Как выполнить нормативные требования к функциональным испытаниям ЭКБ.
Это не просто семинар - это 🗣️ Живой диалог
🔑 Ответы, которые давно искали
⚡️ Заряд мотивации на действия!
Скачайте Программу семинара
Участие бесплатное!
📅 Регистрация до 01 июня 2025 по ссылке
📞 Координатор семинара:
Горбачева Евгения
Телефон:
+7 (495) 269 75 90, доб. 122
АВТОРСКИЙ СЕМИНАР и
МАСТЕР-КЛАСС ФОРМ
"Контроль качества ЭКБ
в условиях параллельного импорта."
🗓05 июня 2025 | 10:00 | Технопарк «Сколково»,
Москва
О чем будем говорить?
❓ Как организовать входной контроль ЭКБ, если бюджет ограничен.
❓ Как выбрать оборудование для ваших задач и не ошибиться.
❓ Как выполнить нормативные требования к функциональным испытаниям ЭКБ.
Это не просто семинар - это 🗣️ Живой диалог
🔑 Ответы, которые давно искали
⚡️ Заряд мотивации на действия!
Скачайте Программу семинара
Участие бесплатное!
📅 Регистрация до 01 июня 2025 по ссылке
📞 Координатор семинара:
Горбачева Евгения
Телефон:
+7 (495) 269 75 90, доб. 122
1❤9👍3
✏️Открываем рубрику
ОТВЕТЫ на ВОПРОСЫ
📃При очередном подтверждении сертификата ФОРМ о соответствии СМК предприятия требованиям ГОСТ Р ИСО 9001-2015
представитель органа сертификации задал вопрос:
❓"Как вы оцениваете успешность поставки вашего оборудования и Тестовых решений?"
Смотрите ответ👇
ОТВЕТЫ на ВОПРОСЫ
📃При очередном подтверждении сертификата ФОРМ о соответствии СМК предприятия требованиям ГОСТ Р ИСО 9001-2015
представитель органа сертификации задал вопрос:
❓"Как вы оцениваете успешность поставки вашего оборудования и Тестовых решений?"
Смотрите ответ👇
This media is not supported in your browser
VIEW IN TELEGRAM
👍11❤7🤔3
📩Присылайте Ваши вопросы в комментарии к рубрике ОТВЕТЫ на ВОПРОСЫ ☝️ и приходите 5 июня на семинар, чтобы детально обсудить их!
👍5
Дорогие коллеги❗️
Делимся с Вами интересной статьей
⛔️"Трудность всего одна – обеспечить технологическую независимость российской микроэлектроники"
Николай Алексеевич Шелепин, д.т.н., руководитель научного направления микроэлектроники, Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН
🚀Наш первый покупатель Тестеров FORMULA® HF3 в 2012 г. с функциями контроля микросхем памяти.
Время электроники
Делимся с Вами интересной статьей
⛔️"Трудность всего одна – обеспечить технологическую независимость российской микроэлектроники"
Николай Алексеевич Шелепин, д.т.н., руководитель научного направления микроэлектроники, Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН
🚀Наш первый покупатель Тестеров FORMULA® HF3 в 2012 г. с функциями контроля микросхем памяти.
Время электроники
Время электроники
Трудность всего одна – обеспечить технологическую независимость российской микроэлектроники - Время электроники
Интервью с Николаем Шелепиным, д.т.н., руководителем научного направления микроэлектроники, Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН, в ежегоднике "Живая электроника России 2025"
👍9🤩4👏2
FORMULA Микроэлектроники
🎉 Результаты розыгрыша: Победитель: Дмитрий ✔️Проверить результаты
Так вот он какой - Вкусный Приз!😋
Поздравляем победителя нашего РОЗЫГРЫША🏆!
Только что, на традиционном пятничном полднике ФОРМ,
пакет с деликатесами вручен Дмитрию лично в руки! 🙌
Ждем ВАС в новых конкурсах, следите за новостями!
Поздравляем победителя нашего РОЗЫГРЫША🏆!
Только что, на традиционном пятничном полднике ФОРМ,
пакет с деликатесами вручен Дмитрию лично в руки! 🙌
Ждем ВАС в новых конкурсах, следите за новостями!
🐳5🤣5💘5👍4👀2🤝1
🏆 Пятничный конкурс от ФОРМ❗️
За лучший комментарий на вопрос "Знаю ли я, зачем компания ФОРМ проводит семинары❓ ❓ "
Ответы принимаются до 22 мая! 🏆Победитель будет награжден на семинаре 5 июня
За лучший комментарий на вопрос "Знаю ли я, зачем компания ФОРМ проводит семинары
Ответы принимаются до 22 мая! 🏆Победитель будет награжден на семинаре 5 июня
Anonymous Poll
55%
Да
14%
Нет
41%
Хочу участвовать в конкурсе за лучший ответ😅
Ну и еще раз призыв - подписывайтесь на канал, а мы попробуем сделать его поинтереснее в ближайшее время!
Готовим комментарий к статье Н.А.Шелепина!
Готовим комментарий к статье Н.А.Шелепина!
👍5👏1
Уважаемые коллеги!
Сегодня -
Всемирный день метрологии!
150 лет с даты подписания
17 странами, включая Россию,
метрической Конвенции!
👏🔥👏
World Metrology Day!
Это наш профессиональный праздник!
Праздник компании ФОРМ!
🍾🥇🏆⚡️
Ведь уже 29 лет кряду
мы полностью сфокусированы
на разработке и производстве автоматических
средств измерений ЭКБ-
ATE FORMULA!
Поздравляю весь коллектив ФОРМ!
Вся наша деятельность
и вся продукция
изо дня в день
служит целям
метрологического обеспечения испытаний ЭКБ!
Поздравляю наших преданных Потребителей -
124 метрологические службы предприятий электронной отрасли!
Поздравляю метрологические органы по всей стране, которые сотрудничают с нами и нашими Потребителями в области надзора за метрологическим соответствием АТЕ!
Желаю всем, причастным измерениям и испытаниям
в микроэлектронике,
твердо следовать
принципам научной метрологии
в НИОКР, при производстве и эксплуатации ATE!
Принципам, которые заложил основатель Русской метрологической школы
Д.И. Менделеев!
Обобщая их на мировоззренческом уровне, хочется сказать
словами Нильса Бора:
"Ничто не существует, пока оно не измерено»!
Так вот в чем он, драйвер нашей работы - давать существование!!!
С уважением,
Наталья Елисеева,
директор ФОРМ
Сегодня -
Всемирный день метрологии!
150 лет с даты подписания
17 странами, включая Россию,
метрической Конвенции!
👏🔥👏
World Metrology Day!
Это наш профессиональный праздник!
Праздник компании ФОРМ!
🍾🥇🏆⚡️
Ведь уже 29 лет кряду
мы полностью сфокусированы
на разработке и производстве автоматических
средств измерений ЭКБ-
ATE FORMULA!
Поздравляю весь коллектив ФОРМ!
Вся наша деятельность
и вся продукция
изо дня в день
служит целям
метрологического обеспечения испытаний ЭКБ!
Поздравляю наших преданных Потребителей -
124 метрологические службы предприятий электронной отрасли!
Поздравляю метрологические органы по всей стране, которые сотрудничают с нами и нашими Потребителями в области надзора за метрологическим соответствием АТЕ!
Желаю всем, причастным измерениям и испытаниям
в микроэлектронике,
твердо следовать
принципам научной метрологии
в НИОКР, при производстве и эксплуатации ATE!
Принципам, которые заложил основатель Русской метрологической школы
Д.И. Менделеев!
Обобщая их на мировоззренческом уровне, хочется сказать
словами Нильса Бора:
"Ничто не существует, пока оно не измерено»!
Так вот в чем он, драйвер нашей работы - давать существование!!!
С уважением,
Наталья Елисеева,
директор ФОРМ
👍22❤3🔥1🐳1
‼️ Сегодня впервые в нашей лаборатории высоковольтных полупроводниковых приборов проведены измерения статических электрических параметров кристаллов
отечественных
IGBT-карбид- кремниевых транзисторов
КЕ 7075Б-51‼️
Впервые измерения выполнены на вновь разработанном Form ATE - автоматическом Комплексе ModulaTXI, предназначенном
для измерений, контроля и испытаний высоковольтных транзисторов и диодов на пластинах.
Комплекс включает:
📌 Тестер FORMULA TT4,
📌Автоматическую зондовую станцию MPI,
📌 Программно-аппаратные средства интеграции Тестера с ЗС,
📌 Средства подключения измеряемых кристаллов к Тестеру.
Проведены измерения в соответствии с ТУ на транзистор следующих статических параметров:
📍Порогового напряжения;
📍Напряжения пробоя коллектор-эмиттер;
📍Тока утечки затвора;
📍Тока утечки коллектор-эмиттер;
📍Напряжения насыщения коллектор-эмиттер
Установлено, что Комплекс не вносит погрешности (сверх допустимых) в процессы воспроизведения режимов и измерений параметров кристаллов IGBT-транзисторов, как при измерении пробивных напряжений и токов утечки на напряжениях в 1200 В, так и при воспроизведении силы тока в 75 А при измерении напряжения насыщения.
👏Полученные результаты "идут в зачет" первой стадии валидационных испытаний Комплекса, который подтвердил себя как надежное АТЕ, перспективное для функциональных испытаний высоковольтных IGBT- (SiC) транзисторов при их серийном и массовом выпуске.
отечественных
IGBT-карбид- кремниевых транзисторов
КЕ 7075Б-51
Впервые измерения выполнены на вновь разработанном Form ATE - автоматическом Комплексе ModulaTXI, предназначенном
для измерений, контроля и испытаний высоковольтных транзисторов и диодов на пластинах.
Комплекс включает:
📌 Тестер FORMULA TT4,
📌Автоматическую зондовую станцию MPI,
📌 Программно-аппаратные средства интеграции Тестера с ЗС,
📌 Средства подключения измеряемых кристаллов к Тестеру.
Проведены измерения в соответствии с ТУ на транзистор следующих статических параметров:
📍Порогового напряжения;
📍Напряжения пробоя коллектор-эмиттер;
📍Тока утечки затвора;
📍Тока утечки коллектор-эмиттер;
📍Напряжения насыщения коллектор-эмиттер
Установлено, что Комплекс не вносит погрешности (сверх допустимых) в процессы воспроизведения режимов и измерений параметров кристаллов IGBT-транзисторов, как при измерении пробивных напряжений и токов утечки на напряжениях в 1200 В, так и при воспроизведении силы тока в 75 А при измерении напряжения насыщения.
👏Полученные результаты "идут в зачет" первой стадии валидационных испытаний Комплекса, который подтвердил себя как надежное АТЕ, перспективное для функциональных испытаний высоковольтных IGBT- (SiC) транзисторов при их серийном и массовом выпуске.
Please open Telegram to view this post
VIEW IN TELEGRAM
2🔥12👍10❤3🐳1🏆1
Действительно, ведь она упрощает жизнь каждому, кто:
- соприкасается с вопросами выбора АТЕ для конкретных применений;
- нуждается в помощи при эксплуатации ATE,
- хочет модернизировать имеющееся ATE или интегрировать его с технологическим оборудованием;
- считает целесообразным заказывать разработку Тестовых решений вместо того, чтобы делать их самостоятельно;
-,🔧 нуждается в ремонте, метрологическом сервисе, техническом обслуживании ATE;
- вырабатывает данные и рекомендации для разработки или совершенствования бизнес-процессов функциональных испытаний ЭКБ;
- связан с анализом рекламаций на качество ЭКБ
...
Список можно продолжать!
🆘 То есть, Техническая поддержка нужна не только нашим Клиентам, но и партнерам, соисполнителям, подрядчикам и собственным сотрудникам!
Техподдержка ФОРМ:
📌+7(495) 269 75 93
📌 https://form.ru/support/
⛹️Чтобы быстро и качественно получать техподдержку ФОРМ, просим вас участвовать в опросе ниже ⬇️!
Please open Telegram to view this post
VIEW IN TELEGRAM
❤5
Куда вам удобнее обращаться за технической поддержкой в ФОРМ? Возможно выбрать несколько ответов:
Anonymous Poll
39%
📩 E-mail
43%
📞 Телефон
48%
📱 Telegram
13%
📱 WhatsApp
FORMULA Микроэлектроники
🏆 Пятничный конкурс от ФОРМ❗️
За лучший комментарий на вопрос "Знаю ли я, зачем компания ФОРМ проводит семинары❓ ❓ "
Ответы принимаются до 22 мая! 🏆Победитель будет награжден на семинаре 5 июня
За лучший комментарий на вопрос "Знаю ли я, зачем компания ФОРМ проводит семинары
Ответы принимаются до 22 мая! 🏆Победитель будет награжден на семинаре 5 июня
Награждаем победителей и дарим звёзды! 🌟
🏆В номинации за лучший ответ на вопрос: «Зачем компания ФОРМ проводит семинары❓ » победили… ВСЕ👏 !
Каждый комментарий участников конкурса отражает разные грани смысла наших семинаров и смысла деятельности ФОРМ в отрасли.
Мы награждаем всех званием FORM’STAR 25⭐️ ⭐️ ⭐️ !
Вручение призов состоится
🚀 5 июня 🚀
на семинаре в Сколково.
Регистрируйтесь на семинар
по ссылке!
🏆В номинации за лучший ответ на вопрос: «Зачем компания ФОРМ проводит семинары
Каждый комментарий участников конкурса отражает разные грани смысла наших семинаров и смысла деятельности ФОРМ в отрасли.
Мы награждаем всех званием FORM’STAR 25
Вручение призов состоится
на семинаре в Сколково.
Регистрируйтесь на семинар
по ссылке!
Please open Telegram to view this post
VIEW IN TELEGRAM
1🥰7👍3🦄3