#статья

📆 Завтра начинается новая рабочая неделя, а сегодня мы выкладываем продолжение обзора статьи Константина Николаевича Ельцова!

⬅️В предыдущей части мы писали о росте субмонослойных пленок галогена на чистых металлических поверхностях и о том, как сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) способна пролить свет на механизм их роста. Сегодня же рассмотрим другой класс систем — пленки галогенидов, нанесенные на металлические поверхности.

❔ На первой стадии осаждение галогенида металла на поверхность монокристалла того же металла может привести к распаду молекулы галогенида и образованию монослоя хемосорбированного галогена.

Как утверждают в статье К.Н. Ельцов и его коллеги, такой сценарий реализуется в случае осаждения AgCl на Ag(111), Ag(100) и осаждения CuCl2 на Cu(100). Дальнейшее осаждение молекул галогенидов даже в этих случаях приводит к росту галогенидной пленки на поверхности.

➡️ Щелочно-галогенидные пленки на металлах являются простейшими системами, изученными методами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и бесконтактной атомно-силовой микроскопии (NC-AFM). Совместное использование методов СТМ и NC-AFM в этих исследованиях выглядит весьма результативным.

✏️ В статье К.Н. Ельцова описано получение первых изображений с атомным разрешением пленки NaCl, осажденной на поверхность Al(111) при комнатной температуре (см. рисунки 1 а и b). По СТМ-изображению, показанному на рисунке 1 а, островки хлорида натрия следуют «ковровому» росту по ступеням поверхности. Анализ изображений атомного разрешения показывает, что СТМ в этом случае может различать только ионы хлора. Однако в других исследованиях, ссылки на которые приводятся в статье К.Н. Ельцова, была продемонстрирована одновременная визуализация атомов щелочи и галогена в плотную гексоганальную упаковку - в областях поверхности NaCl/Au(111) с использованием функционализированной иглы СТМ. Рост галогенидов щелочных металлов на этих металлах также может давать характерные муаровые картины, видимые в СТМ (рисунок 1 c и d).
📏📏📏📏📏📏📏📏📏📏📏
К.Н. Ельцов с коллегами исследовали рост NaCl на вицинальной поверхности Cu(210) с помощью СТМ. Эксперименты проводились при комнатной температуре и при температуре роста 95°С. В итоге было установлено, что нанесение хлорида натрия NaCl приводит к трансформации исходной плоской поверхности в систему граней (311) и (111), причем пленка NaCl селективно растет на грани (331) (см. рисунок 2 а). Когда же NaCl был нанесен на изогнутую поверхность Cu(532), СТМ-изображения показали регулярный двумерный массив трехсторонних пирамид (рисунок 2 b). Только две грани пирамид оказались покрыты хлоридом натрия.

✨ Низкотемпературное осаждение галогенидов щелочных металлов непосредственно на эти металлы приводит к росту фрактальных островков. На рисунке 3 показаны СТМ-изображения, полученные после осаждения LiF на Ag(111) при 77 К. Зарождение молекул LiF происходило как на верхней, так и на нижней стороне краев ступеней, в отличие от роста металл по металлу.
🟡🟡🟡🟡🟡🟡🟡🟡🟡🟡🟡
В 1999 году Бенневиц с соавторами применили NC-AFM для исследования пленки NaCl на Cu(111) и получили изображения атомного разрешения.
Также тонкие пленки галогенидов щелочных металлов на металлах исследовались методом зондовой силовой микроскопии Кельвина (KPFM). Метод KPFM позволяет измерять изменения работы выхода металлических подложек, вызванные адсорбцией тонкой изолирующей пленки. Изменение работы выхода было измерено для LiCl, NaCl, KCl, RbCl на Au(111), для пленок NaCl и KBr на Cu(111) и для пленок KBr на Ag(111).

#дайджест #лекции

🔥 ПОСЛЕДНЯЯ ЗИМНЯЯ ЛЕКЦИЯ В НАШЕМ ЦЗМ AFM Centre! 🔥

🐾 О чем же мы поговорим на этот раз?

Тема лекции: Безапертурная сканирующая микроскопия ближнего оптического поля (ASNOM)
Наш лектор: д. ф.-м. н. Казанцев Дмитрий Всеволодович (ВШЭ)

💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜
На лекции будут рассмотрены принципы работы микроскопа ближнего оптического поля. В этом приборе взаимодействие исследуемого объекта и электромагнитного поля сконцентрировано в зазоре между поверхностью и остриём иглы, имеющим размер 10-30 нм.
Метод позволяет преодолеть предел пространственного разрешения обычной микроскопии, задаваемый пределом Аббе (аналогом соотношения неопределенности в квантовой механике).
💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜

С нетерпением ждём вас в нашем Центре 🥰

🎞 А онлайн-участников за 5 минут до начала трансляции будет ждать ссылка для подключения

📆 29 февраля 17:15
📍 Университет ИТМО, Санкт-Петербург, ул. Ломоносова 9, аудитория 2222, ЦЗМ AFM Centre

#статья

☕️ Доброе утро, друзья! ☕️

Пока мы все с нетерпением ждём выступления Дмитрия Всеволодовича Казанцева в этот четверг, предлагаем вам ознакомиться с разбором одной из его статей 🦈

🐾 Сканирующая микроскопия ближнего поля (SNOM - Scanning Near-field Optical Microscopy) — это метод, позволяющий обойти оптические ограничения получения изображения и достичь разрешающей способности в нанометры.

Существует два вида микроскопии ближнего оптического поля:
📎 апертурная ближнепольная микроскопия
📎 безапертурная ближнепольная микроскопия (ASNOM - Apertureless SNOM)

В статье Д.В. Казанцева речь идёт об ASNOM как о перспективном методе исследования оптических свойств поверхности с нанометровым разрешением.

➡️ Основной идеей безапертурной сканирующей оптической микроскопии (SNOM) является использование заостренного отрезка проводника, аналогичного штыревой антенне в классической радиотехнике, для достижения соответствия между электромагнитными процессами в исследуемом нанообъекте и полями обычных электромагнитных волн оптического диапазона. Для этих целей в атомно-силовом микроскопе (АСМ) применяется сканирующая игла, которая выступает в роли указанного отрезка проводника.

➡️ Электрические колебания в проводнике (как чисто дипольные колебания электронной плотности, так и более сложные плазмонные возбуждения) легко излучают световые волны в окружающее пространство и, в свою очередь, могут быть легко возбуждены электромагнитными волнами, прилетающими на такую антенну извне. Будучи поднесённым к исследуемому объекту (нанокристаллу, вирусу, отдельной молекуле) на достаточно малое расстояние, зонд-антенна вступает с объектом в электромагнитное взаимодействие через "ближние", в основном электрические, поля. Эти ближние поля не излучаются в окружающее пространство (слабо взаимодействуют с полями распространяющихся электромагнитных волн), и таким образом, без помощи зонда-антенны не могут быть оптически возбуждены или зарегистрированы извне. Однако ближние поля обеспечивают весьма эффективную связь исследуемого объекта с электрическими колебаниями в металле зонда (щель между зондом и образцом действует подобно конденсатору в классической радиотехнике).

Пространственное разрешение такого прибора (0,8 нм, 1 нм, 10 нм, 50 нм) определяется радиусом острия на кончике металлического зонда и практически не зависит от длины волны.

➡️ Излучательным (волновым) модам электромагнитного поля просторно вокруг иглы, безызлучательным (ближнепольным) модам тесно под остриём, как и должно быть.

➡️ В качестве такой иглы-антенны выступают кремниевые кантилеверы, подобные используемым для ACM, поверхность которых покрывают металлом (например платиной).

🔔 ASNOM позволяет получать контрастные изображения различных материалов (отличающихся диэлектрической проницаемостью на оптической частоте), что продемонстрировано на рисунке 1. На рисунке приведено ASNOM-изображение тестовой решетки из квадратиков SiO2, сформированных на поверхности кремниевой подложки. Различие диэлектрической проницаемость Si и SiO2 (12 и 3.9 соответственно) обеспечивает высокий контраст получаемого изображения.

➡️ Чувствительность метода ASNOM к значению диэлектрической проницаемости образца позволяет различать области полупроводника с различным уровнем легирования (рисунок 2).
Кремниевая пластина, на поверхности которой сформирована решетка параллельных полос легирования, была отсканирована “с торца”. Подложка была распилена перпендикулярно поверхности, и образовавшийся “скол”, соответствующий сечению исходного образца, был помещен для сканирования в s-SNOM.

➡️ Также, метод позволяет получать контрастные изображения поверхности, области которой отличаются коэффициентом поглощения на рабочей длине волны и коэффициентом термического расширения (рисунок 3).

#лекции

ОСТАЛОСЬ СОВСЕМ НЕМНОГО 🤩

Наш спикер: Казанцев Дмитрий Всеволодович (ВШЭ).
Тема лекции: Безапертурная сканирующая микроскопия ближнего оптического поля (ASNOM).

▶️ Ссылка на онлайн-трансляцию:
https://youtube.com/live/dVlzcm829k4

Начинаем в 17:15, подключайтесь! 💻

🔤🔤🔤🔤🔤🔤🔤
🔤🔤🔤🔤🔤🔤🔤


👀 В последнее время мы делаем разборы достаточно больших статей. И эти разборы сами получаются очень объемными.

🧐 Хотим поинтересоваться, интересно ли вам читать такие большие обзоры или нам стоит их сократить?


Голосуйте в опросе👇

#статья

☀️ДОБРОГО ДНЯ, ДРУЗЬЯ☀️

Спасибо всем, кто голосовал в предыдущем посте, вы нам очень помогли ❤️
Учитывая мнение наших читателей, мы перейдем к новому формату разборов статей: краткая аннотация в посте + подробный разбор по ссылке в telegra.ph 🔍

👇ТАК ЧТО...

🛸 Мы подготовили для вас обзор статьи нашего следующего лектора — Мочалова К.Е.


Речь пойдет про интеграцию атомно-силовой микроскопии с другими методами исследований и разработке экспериментальной установки «Система зондово-оптической 3D корреляционной микроскопии», с помощью которой было изучено формирование анизотропных особенностей поверхности полимеров.


https://telegra.ph/Obzor-stati-Mochalova-KE-03-06

#дайджест #лекции

🔥НОВАЯ ЛЕКЦИЯ УЖЕ В ЭТОТ ЧЕТВЕРГ🔥

🐾 О чем же мы поговорим на этот раз?

Тема лекции: Корреляционная 3D-ультраструктурная микроспектроскопия
Наш лектор: Мочалов Константин Евгеньевич (ИБХ РАН)

💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜
На лекции будут рассмотрены наиболее популярные и востребованные методы ультраструктурной микроскопии. Для каждого из представленных методов будут приведены примеры подходов для восстановления 3D-ультраструктурной информации. Отдельное внимание будет уделено коррелятивным подходам, нацеленным на синергетическое объединение возможностей сканирующей-зондовой и оптической микроскопии. В качестве наглядного примера будет подробно разобрана методика Оптико-Зондовой Нанотомографии.
💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜

С нетерпением ждём вас в нашем Центре 🥰

🎞 А онлайн-участников за 10 минут до начала трансляции будет ждать ссылка для подключения

📆 14 марта в 17:15
📍 Университет ИТМО, Санкт-Петербург, ул. Ломоносова 9, аудитория 2222, ЦЗМ AFM Centre

#статья

🔥ДОБРОГО ДНЯ, ДРУЗЬЯ!🔥

☀️ В этот прекрасный солнечный день мы готовы поделиться с вами разбором еще одной статьи Константина Мочалова!

И поговорим мы сегодня о КОРРЕЛЯЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ. С помощью этого метода можно определить наноразмерную 3D-морфологию, физические параметры и химический состав образца, а также оценить корреляции между этими характеристиками.

🔥Звучит круто, да? Всё потому, что корреляционная микроскопия объединяет сразу несколько разных микроскопических и спектроскопических методов.

А о том, что именно объединила научная группа Мочалова К.Е., читайте в нашем разборе👇

https://telegra.ph/Korrelyacionnaya-mikroskopiya-03-12

#дайджест #лекции

🌷ПЕРВАЯ ВЕСЕННЯЯ ЛЕКЦИЯ УЖЕ СЕГОДНЯ!

📌 Тема лекции: Корреляционная 3D- ультраструктурная микроспектроскопия
🗣Спикер: Мочалов Константин Евгеньевич (ИБХ РАН)

Поговорим о методах ультраструктурной микроскопии и коррелятивных подходах. В частности, подробно разберем оптико-зондовую нанотомографию.

💻 Приходите к нам в Центр или подключайтесь онлайн, ссылку пришлём сегодня в 17:00

🗓 14 марта 17:15
📍 Университет ИТМО, Санкт-Петербург, ул. Ломоносова 9, аудитория 2222, ЦЗМ AFM Centre

До встречи на лекции!❤️❤️

#лекции

ОСТАЛОСЬ СОВСЕМ НЕМНОГО 🤩

Наш спикер: Мочалов Константин Евгеньевич (ИБХ РАН)
Тема лекции: Корреляционная 3D- ультраструктурная микроспектроскопия

▶️ Ссылка на онлайн-трансляцию:
https://youtube.com/live/yy3Ygp41K1Q

Начинаем в 17:15, подключайтесь! 💻