#дайджест #лекции

🔥 ПОСЛЕДНЯЯ ЗИМНЯЯ ЛЕКЦИЯ В НАШЕМ ЦЗМ AFM Centre! 🔥

🐾 О чем же мы поговорим на этот раз?

Тема лекции: Безапертурная сканирующая микроскопия ближнего оптического поля (ASNOM)
Наш лектор: д. ф.-м. н. Казанцев Дмитрий Всеволодович (ВШЭ)

💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜
На лекции будут рассмотрены принципы работы микроскопа ближнего оптического поля. В этом приборе взаимодействие исследуемого объекта и электромагнитного поля сконцентрировано в зазоре между поверхностью и остриём иглы, имеющим размер 10-30 нм.
Метод позволяет преодолеть предел пространственного разрешения обычной микроскопии, задаваемый пределом Аббе (аналогом соотношения неопределенности в квантовой механике).
💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜

С нетерпением ждём вас в нашем Центре 🥰

🎞 А онлайн-участников за 5 минут до начала трансляции будет ждать ссылка для подключения

📆 29 февраля 17:15
📍 Университет ИТМО, Санкт-Петербург, ул. Ломоносова 9, аудитория 2222, ЦЗМ AFM Centre

#статья

☕️ Доброе утро, друзья! ☕️

Пока мы все с нетерпением ждём выступления Дмитрия Всеволодовича Казанцева в этот четверг, предлагаем вам ознакомиться с разбором одной из его статей 🦈

🐾 Сканирующая микроскопия ближнего поля (SNOM - Scanning Near-field Optical Microscopy) — это метод, позволяющий обойти оптические ограничения получения изображения и достичь разрешающей способности в нанометры.

Существует два вида микроскопии ближнего оптического поля:
📎 апертурная ближнепольная микроскопия
📎 безапертурная ближнепольная микроскопия (ASNOM - Apertureless SNOM)

В статье Д.В. Казанцева речь идёт об ASNOM как о перспективном методе исследования оптических свойств поверхности с нанометровым разрешением.

➡️ Основной идеей безапертурной сканирующей оптической микроскопии (SNOM) является использование заостренного отрезка проводника, аналогичного штыревой антенне в классической радиотехнике, для достижения соответствия между электромагнитными процессами в исследуемом нанообъекте и полями обычных электромагнитных волн оптического диапазона. Для этих целей в атомно-силовом микроскопе (АСМ) применяется сканирующая игла, которая выступает в роли указанного отрезка проводника.

➡️ Электрические колебания в проводнике (как чисто дипольные колебания электронной плотности, так и более сложные плазмонные возбуждения) легко излучают световые волны в окружающее пространство и, в свою очередь, могут быть легко возбуждены электромагнитными волнами, прилетающими на такую антенну извне. Будучи поднесённым к исследуемому объекту (нанокристаллу, вирусу, отдельной молекуле) на достаточно малое расстояние, зонд-антенна вступает с объектом в электромагнитное взаимодействие через "ближние", в основном электрические, поля. Эти ближние поля не излучаются в окружающее пространство (слабо взаимодействуют с полями распространяющихся электромагнитных волн), и таким образом, без помощи зонда-антенны не могут быть оптически возбуждены или зарегистрированы извне. Однако ближние поля обеспечивают весьма эффективную связь исследуемого объекта с электрическими колебаниями в металле зонда (щель между зондом и образцом действует подобно конденсатору в классической радиотехнике).

Пространственное разрешение такого прибора (0,8 нм, 1 нм, 10 нм, 50 нм) определяется радиусом острия на кончике металлического зонда и практически не зависит от длины волны.

➡️ Излучательным (волновым) модам электромагнитного поля просторно вокруг иглы, безызлучательным (ближнепольным) модам тесно под остриём, как и должно быть.

➡️ В качестве такой иглы-антенны выступают кремниевые кантилеверы, подобные используемым для ACM, поверхность которых покрывают металлом (например платиной).

🔔 ASNOM позволяет получать контрастные изображения различных материалов (отличающихся диэлектрической проницаемостью на оптической частоте), что продемонстрировано на рисунке 1. На рисунке приведено ASNOM-изображение тестовой решетки из квадратиков SiO2, сформированных на поверхности кремниевой подложки. Различие диэлектрической проницаемость Si и SiO2 (12 и 3.9 соответственно) обеспечивает высокий контраст получаемого изображения.

➡️ Чувствительность метода ASNOM к значению диэлектрической проницаемости образца позволяет различать области полупроводника с различным уровнем легирования (рисунок 2).
Кремниевая пластина, на поверхности которой сформирована решетка параллельных полос легирования, была отсканирована “с торца”. Подложка была распилена перпендикулярно поверхности, и образовавшийся “скол”, соответствующий сечению исходного образца, был помещен для сканирования в s-SNOM.

➡️ Также, метод позволяет получать контрастные изображения поверхности, области которой отличаются коэффициентом поглощения на рабочей длине волны и коэффициентом термического расширения (рисунок 3).

#лекции

ОСТАЛОСЬ СОВСЕМ НЕМНОГО 🤩

Наш спикер: Казанцев Дмитрий Всеволодович (ВШЭ).
Тема лекции: Безапертурная сканирующая микроскопия ближнего оптического поля (ASNOM).

▶️ Ссылка на онлайн-трансляцию:
https://youtube.com/live/dVlzcm829k4

Начинаем в 17:15, подключайтесь! 💻

🔤🔤🔤🔤🔤🔤🔤
🔤🔤🔤🔤🔤🔤🔤


👀 В последнее время мы делаем разборы достаточно больших статей. И эти разборы сами получаются очень объемными.

🧐 Хотим поинтересоваться, интересно ли вам читать такие большие обзоры или нам стоит их сократить?


Голосуйте в опросе👇

#статья

☀️ДОБРОГО ДНЯ, ДРУЗЬЯ☀️

Спасибо всем, кто голосовал в предыдущем посте, вы нам очень помогли ❤️
Учитывая мнение наших читателей, мы перейдем к новому формату разборов статей: краткая аннотация в посте + подробный разбор по ссылке в telegra.ph 🔍

👇ТАК ЧТО...

🛸 Мы подготовили для вас обзор статьи нашего следующего лектора — Мочалова К.Е.


Речь пойдет про интеграцию атомно-силовой микроскопии с другими методами исследований и разработке экспериментальной установки «Система зондово-оптической 3D корреляционной микроскопии», с помощью которой было изучено формирование анизотропных особенностей поверхности полимеров.


https://telegra.ph/Obzor-stati-Mochalova-KE-03-06

#дайджест #лекции

🔥НОВАЯ ЛЕКЦИЯ УЖЕ В ЭТОТ ЧЕТВЕРГ🔥

🐾 О чем же мы поговорим на этот раз?

Тема лекции: Корреляционная 3D-ультраструктурная микроспектроскопия
Наш лектор: Мочалов Константин Евгеньевич (ИБХ РАН)

💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜
На лекции будут рассмотрены наиболее популярные и востребованные методы ультраструктурной микроскопии. Для каждого из представленных методов будут приведены примеры подходов для восстановления 3D-ультраструктурной информации. Отдельное внимание будет уделено коррелятивным подходам, нацеленным на синергетическое объединение возможностей сканирующей-зондовой и оптической микроскопии. В качестве наглядного примера будет подробно разобрана методика Оптико-Зондовой Нанотомографии.
💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜💜

С нетерпением ждём вас в нашем Центре 🥰

🎞 А онлайн-участников за 10 минут до начала трансляции будет ждать ссылка для подключения

📆 14 марта в 17:15
📍 Университет ИТМО, Санкт-Петербург, ул. Ломоносова 9, аудитория 2222, ЦЗМ AFM Centre

#статья

🔥ДОБРОГО ДНЯ, ДРУЗЬЯ!🔥

☀️ В этот прекрасный солнечный день мы готовы поделиться с вами разбором еще одной статьи Константина Мочалова!

И поговорим мы сегодня о КОРРЕЛЯЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ. С помощью этого метода можно определить наноразмерную 3D-морфологию, физические параметры и химический состав образца, а также оценить корреляции между этими характеристиками.

🔥Звучит круто, да? Всё потому, что корреляционная микроскопия объединяет сразу несколько разных микроскопических и спектроскопических методов.

А о том, что именно объединила научная группа Мочалова К.Е., читайте в нашем разборе👇

https://telegra.ph/Korrelyacionnaya-mikroskopiya-03-12

#дайджест #лекции

🌷ПЕРВАЯ ВЕСЕННЯЯ ЛЕКЦИЯ УЖЕ СЕГОДНЯ!

📌 Тема лекции: Корреляционная 3D- ультраструктурная микроспектроскопия
🗣Спикер: Мочалов Константин Евгеньевич (ИБХ РАН)

Поговорим о методах ультраструктурной микроскопии и коррелятивных подходах. В частности, подробно разберем оптико-зондовую нанотомографию.

💻 Приходите к нам в Центр или подключайтесь онлайн, ссылку пришлём сегодня в 17:00

🗓 14 марта 17:15
📍 Университет ИТМО, Санкт-Петербург, ул. Ломоносова 9, аудитория 2222, ЦЗМ AFM Centre

До встречи на лекции!❤️❤️

#лекции

ОСТАЛОСЬ СОВСЕМ НЕМНОГО 🤩

Наш спикер: Мочалов Константин Евгеньевич (ИБХ РАН)
Тема лекции: Корреляционная 3D- ультраструктурная микроспектроскопия

▶️ Ссылка на онлайн-трансляцию:
https://youtube.com/live/yy3Ygp41K1Q

Начинаем в 17:15, подключайтесь! 💻

#запись


📰 14 марта в ЦЗМ AFM Centre прошла лекция от к. ф.-м. н. Константина Евгеньевича Мочалова (ИБХ РАН)

📎 Тема выступления: «Корреляционная 3D- ультраструктурная микроспектроскопия»

Слушатели на наглядных примерах узнали о различных методах ультраструктурной микроскопии, об объединении возможностей сканирующей зондовой и оптической микроскопии и о многом другом😉

🎞 Запись лекции смотрите по ссылке:
https://youtube.com/live/yy3Ygp41K1Q

Ждём вас снова в нашем ЦЗМ AFM Centre ❤️‍🔥